聚焦存储与算力芯片全链路测试,深圳精智达湾芯展披露新进展

2026-10-15 13:26:13
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10月14日,2026湾区半导体(881121)产业生态博览会(简称“湾芯展”)在深圳会展中心(福田)开幕。

南都湾财社记者从深圳本土半导体设备(884229)企业精智达(688627)(688627.SH)获悉,该公司携半导体(881121)存储芯片(886042)测试设备、算力芯片测试设备、MEMS探针卡及XR微显示检测设备等产品线参展,集中披露了其在AI基础设施测试领域的最新业务进展。

精智达(688627)市场资深总监于波指出,随着先进制程持续微缩,Chiplet(芯粒)、3D堆叠等先进封装(886009)工艺快速迭代,芯片集成度与算力密度的提升,对测试系统的算力带宽、测量精度以及全链路管控能力带来了直接挑战。

“目前国内高端封测产能正在加速扩张,如何提升核心测试设备及全流程量产方案的自主创新能力,是产业面临的重要课题。”于波表示,针对先进封装(886009)产线的需求,精智达(688627)正依托AIHPC(人工智能(885728)与高性能计算)架构构建全栈测试平台,通过自研SoC ATE测试机等产品矩阵,逐步形成覆盖底层技术、核心设备及生产流程的系统化交付能力。

当前,随着AI算力需求持续攀升,算力、存力、运力及感知等半导体(881121)关键环节正迎来协同升级,下游市场对测试检测设备的带宽性能、精度和系统化能力提出了更高要求。围绕这一产业趋势,精智达(688627)正在将其测试设备业务从单点突破向“存、算、运、感知”全链路解决方案延伸。

记者从展会现场了解到,在核心的存储芯片(886042)测试领域,精智达(688627)针对DRAM、NAND Flash等新一代存储产品,展出了涵盖晶圆测试、老化修复、高速成品测试在内的全套核心设备;在算力芯片测试领域,该公司推出了面向高性能运算、逻辑与混合信号芯片的自研SoC ATE(自动测试设备)测试机及系列产品,重点攻关高速测试通道、大功率供电及多场景协同测试能力。

与此同时,在核心耗材与端侧应用方面,精智达(688627)展示了覆盖存储类芯片的MEMS探针卡,该产品可支持高速、三温、大电流等复杂工况下的稳定测试;其微显示检测设备则覆盖了从Micro LED(884095)晶圆检测、模组老化到系统级检测的完整链条,进一步向AI端侧硬件应用场景拓展。

精智达(688627)方面表示,后续将继续围绕AI基础设施方向加大在半导体(881121)测试检测领域的研发投入,依托可复用的技术底座推进测试设备向高精度与平台化升级,进一步深化与半导体(881121)产业链上下游的协同配套。

采写:南都湾财社记者严兆鑫

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