2026年10月25日至30日，第25届国际二次离子质谱大会(SIMS25)在广州召开，这是该全球二次离子质谱(SIMS)领域顶尖学术盛会首次落地中国。本届大会由香港科技大学(广州)主办，展示SIMS技术在环境科学、材料科学、生命科学等方向的研究进展、技术突破和新兴应用。
雪迪龙（002658）携手英国子公司Kore Technology共同参展，分享双方联合研发成果——全新升级国产化飞行时间二次离子质谱仪SurfaceSeer I TOF-SIMS，同国内外专家学者交流其在科研领域及半导体（881121）等行业的应用前景。
SurfaceSeer I TOF-SIMS
飞行时间二次离子质谱仪
技术特点
高亮度25kV LMIG一次离子束
高质量2D/3D成像
多种离子束及配置可选
系统及分析参数全部由计算机控制
高稳定样品台
支持客户定制
应用领域
导体和绝缘样品
涂层及污染分析
粘附性与印刷适性研究
半导体
表面清洁度
聚合物薄膜
催化剂与同位素分析
生物材料与生物相容性
未来，雪迪龙（002658）将继续聚力核心技术攻关，携手行业伙伴推进SIMS技术产业化应用，以国产化高端质谱装备赋能半导体（881121）、材料研究等领域科研创新。
